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KLA-Tencor Profiler探针式台阶仪-台阶仪精度
仪器简介:应用: ◆薄膜厚度测量; ◆样品表面形貌测量; ◆薄膜应力测量; ◆样品表面粗糙度/波纹度测量; ◆样品表面三维形貌测量等。技术参数:KLA-Tencor先进的探针式台阶
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KLA 纳米力学测试仪iMicro
。除了能够推进高校科研之外,iMicro还可以为以下材料和行业进行纳米压痕测试和抗蠕变性测量:硬涂层陶瓷和玻璃金属和合金复合材料涂料和油漆医药器械半导体电池与储能材料汽车和航空航天主要功能高度模块化
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KLA 纳米力学测试仪iNano
蠕变性测量:生产质量控制金属和合金医药器械涂料和油漆半导体高聚物与塑料MEMS/纳米级器件电池和储能材料陶瓷与玻璃主要功能高度模块化设计, 既具有为宽泛的测试功能,又可提供高通量的自动化测试功能,并
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Profiler HR 辉光放电光谱仪
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KLA-Tencor Candela CS10/CS20 表面缺陷检测设备
仪器简介:应用: ◆ 硅片、化合物、半导体及透明材质产品表面缺陷的检查分析。技术参数:KLA-Tencor Candela CS10表面缺陷检测设备是针对半导体行业的表面缺陷的检查
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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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HORIBA GD Profiler 2射频辉光放电光谱仪
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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Filmetrics R54 电阻率测量仪
阻率测试仪问世以来,KLA公司系列产品已经彻底颠覆了导电薄膜得薄膜电阻和厚度的测量方式。从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产品,薄膜电阻监控对于任何使用导电薄膜的行业都至关重要。R54在功能上
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KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪
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